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第三代
半导体测试家族
Third generation semiconductor testing family
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分类
QT-6000 分立器件高速测试系统

QT-6000分立器件高速测试机,适用于测试中小功率二三极管、场效应管等产品及晶圆,可拓展内置电容测试(DC+CAP)、EAS、VC、pA模块,也可扩展外挂LCR(超高精度电容测试)、Scanbox等,应用于FT量产测试或实验室测试。



悬浮电源

四象限电路

高速测试

支持多种扩展

型号 QT-6000
产品优势 ? QT-6000分立器件高速测试机,具备测试精度高、测试速度快、稳定性好、可靠性高、抗干扰能力强等性能优点。
? 采用四象限电路,可以很好的保护被测器件。
? 采用悬浮电源和全对称结构。
? 高速测试满足UPH56K以上的分选机。
主要特点 ? 高速测试,UPH>40K
? 可一拖二实现100% FT+QA并行测试
? 先进的电容高速测试方案,实现CAP+DC同工位测试
? 内置UIS测试方案,实现DC+UIS同工位测试

? LCR精准电容测试,最小测试电容值100fF

电压/电流(可选): 1200V/600V, 30A/ 10A/3A。





Testing standards检测标准
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